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商品の詳細

書名:Thin Film Analysis by X-Ray Scattering著者:Mario Birkholz出版社:WILEY-VCH#薄膜 #X線回折 #結晶解析 #固体物理 #表面科学
カテゴリー:本・音楽・ゲーム>>>本>>>参考書
商品の状態:未使用に近い
配送料の負担:送料込み(出品者負担)
配送の方法:佐川急便/日本郵便
発送元の地域:長崎県
発送までの日数:1~2日で発送

商品の説明

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